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產品資料

快速溫度變化(濕熱)試驗箱

如(ru)果您對該產品(pin)感興(xing)趣的話(hua),可以(yi)
產品名稱: 快速(su)溫度變化(濕熱(re))試驗箱
產品型號: TC快速溫(wen)度循環試驗箱
產品展商: Lab Companion
產品文檔: 無相關(guan)文(wen)檔

簡單介紹

Lab Companion TC系列快速溫度循環試驗箱 Fast Temperature Cycle Test Chamber是宏展科技的上等產品,它把產品測試帶到了一個全新的階段。高性能Platinum系列試驗箱能使箱內環境和被測產品產生快速溫度變化,從而大大減少了試驗時間,提高了試驗的工作效率。快速溫度變化也使被測產品產生了更大的應力,因而也提高了應力篩選效率。快速溫度循環試驗箱 Fast Temperature Cycle Test Chamber


快速溫度變化(濕熱)試驗箱  的詳細介紹

Lab Companion 快速溫度(du)循(xun)環試驗箱(xiang) Fast Temperature Cycle Test Chamber




快溫變應力篩選試(shi)驗箱是產品(pin)在(zai)設計強度極限下,運用溫度加(jia)速技巧(在(zai)上、下(xia)限(xian)極值(zhi)溫度內進行(xing)循環時(shi),產品(pin)產生交替膨脹和收(shou)縮)改變(bian)外(wai)在(zai)環境應力(li)(li),使產品(pin)中產生熱應力(li)(li)和應變(bian),透過(guo)加(jia)速應力(li)(li)來使潛(qian)存于產品(pin)的(de)瑕(xia)疵浮現[潛(qian)在(zai)零件材料瑕(xia)疵、制程(cheng)瑕(xia)疵、工藝瑕(xia)疵],以(yi)避免該產品(pin)于使用過(guo)程(cheng)中,受到(dao)環境應力(li)(li)的(de)考驗時(shi)而導(dao)致失效(xiao),造(zao)成(cheng)不(bu)(bu)必要(yao)的(de)損失,對于提高產品(pin)出貨良率與降低返修(xiu)次數有顯著(zhu)的(de)效(xiao)果,另外(wai)應力(li)(li)篩本身(shen)是一(yi)種(zhong)制程(cheng)階段的(de)過(guo)程(cheng),而不(bu)(bu)是一(yi)種(zhong)可靠度(du)試驗(yan),所以(yi)應力(li)篩選是100%對產(chan)品進行(xing)的(de)程(cheng)序。


對應特點:

對應 IEC規格(ge)試(shi)驗(yan)和汽車(che)相關規格(ge)試(shi)驗(yan)。
   能夠實現在(zai)有試樣情況(kuang)下(xia),1℃~10℃的斜率控(kong)制
   冷(leng)輸(shu)出節能調溫調濕控制系統(tong),雙PID及(ji)水蒸(zheng)氣(qi)分(fen)壓控制,技術成熟、精度極高。可實現高精度的(de)溫度控制。
   在定值運(yun)轉及程(cheng)序運(yun)轉(斜率控制)中
產品綠(lv)色環保、省耗節(jie)能。通(tong)過相關接(jie)口均可進(jin)行(xing)網絡控制及數據(ju)采集。
   溫度運轉(zhuan)模式:0℃以下(xia)的(de)(de)運轉(zhuan)的(de)(de)話(hua),基(ji)本可以做到(dao)只用冷凍機(ji)去達到(dao)溫度控制(Dual PID控制 )···加熱器輸出是常OFF。
可模(mo)擬汽車(che)行(xing)走環境(jing)后零部件重復快速溫度變化(hua)
   例(li)如:-40℃~+125℃的循環等,評價其(qi)耐(nai)久性。
對應汽車零部件的各種結露實驗
   溫(wen)度變化率:5℃/分以(yi)上(shang)、10℃/分以(yi)上(shang)、15℃/分以(yi)上(shang)、20℃/分以(yi)上(shang)。
根據日(ri)益增多的半(ban)導體(ti),車載電(dian)子相關電(dian)子元器件(jian)檢測需求,增加了200L,300L小(xiao)容(rong)量(liang)的快溫變試驗箱
    新型(xing)號T-200-20,T-300-20,溫度變化率:20℃/min,結構緊湊,功能強(qiang)大。



滿(man)足以下標準
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱(xiang)技術條件
GB/T 10586 -2006 濕(shi)熱(re)試驗箱技術條件(jian)
GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huan)境(jing)試驗(yan) 第(di)2部(bu)分:試驗(yan)方法 試驗(yan)A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗(yan) 第2部分(fen):試驗(yan)方法(fa) 試驗(yan)B:高溫(wen)
GB/T 2423.3-2006 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法(fa) 試驗Cab:恒(heng)定濕熱試驗
GB/T 2423.4-2008 電工電子產品環(huan)境試(shi)驗(yan)(yan) 第(di)2部分:試(shi)驗(yan)(yan)方法 試(shi)驗(yan)(yan)Db:交變(bian)濕熱(12h + 12h循環(huan))
GB/T 2423.22-2008 電工電子產品環境試驗 第(di)2部分(fen):試驗方法試驗N:溫(wen)度(du)變化
 GB/T 5170.1-2008 電(dian)工(gong)電(dian)子產品環境試驗設(she)備檢驗方法(fa) 總則
GJB 150.3A-2009 軍(jun)用裝(zhuang)備實驗(yan)室環境試驗(yan)方法第(di)3部分:高(gao)溫試驗(yan)
GJB 150.4A-2009 軍用裝(zhuang)備實驗室環境試驗方法第4部分:低溫試驗
GJB 150.9A-2009 軍用裝備實驗(yan)室環境試(shi)(shi)驗(yan)方法第9部(bu)分:濕熱(re)試(shi)(shi)驗(yan)



主要技術(shu)指標


產品名稱 型(xing)號(hao) 溫度范圍 濕度控(kong)制(zhi) 濕度范圍 內容積 內尺寸(W×H×Dmm) 外(wai)尺(chi)寸(W×H×Dmm)※3 升降(jiang)溫(wen)速率※4
快速(su)溫度變化(濕熱(re))試驗箱 C-200--70-20 -70℃~+180℃ YES 10%~98%rh 200L 600 x 830 x 400 800 x 1703 x 1800 18 K/min.
快速溫度變(bian)化(濕熱)試(shi)驗箱 C-300--70-20 -70℃~+180℃ YES 10%~98%rh 300L 600 x 830 x 600 800 x 1703 x 2000 18 K/min.
快速溫(wen)度變化(hua)(濕(shi)熱)試(shi)驗箱 C-400--70-10 -70℃~+180℃ YES 10%~98%rh 400L 600 x 830 x 800 800 x 1703 x 2200 10 K/min.
快速溫度變化(hua)(濕熱)試驗箱 C-400--70-15 -70℃~+180℃ YES 10%~98%rh 400L 600 x 830 x 800 800 x 1703 x 2200 15 K/min.
快速溫度變化(濕(shi)熱)試驗箱 C-800-70-5 -70℃~+180℃ YES 15%~98%rh 784L 1000 x 980 x 800 1200 x 1853 x 2200 5 K/min.
快速溫度(du)變(bian)化(hua)(濕(shi)熱)試驗箱 C-800-70-10 -70℃~+180℃ YES 10%~98%rh 784L 1000 x 980 x 800 1200 x 1853 x 2200 10 K/min.
快速(su)溫度變化(濕熱)試驗箱 C-800-70-15 -70℃~+180℃ YES 10%~98%rh 784L 1000 x 980 x 800 1200 x 1853 x 2200 15 K/min.
快(kuai)速溫度變(bian)化(濕熱)試驗(yan)箱 C-800-70-20 -70℃~+180℃ YES 20%~98%rh 784L 1000 x 980 x 800 1200 x 1910 x 2930 20 K/min.
快速溫度變化(濕熱)試驗箱 C-1000-70-5 -70℃~+180℃ YES 15%~98%rh 980L 1000 x 980 x 1000 1200 x 1853 x 2400 5 K/min.
快速溫度(du)變化(濕熱)試驗(yan)箱(xiang) C-1000-70-10 -70℃~+180℃ YES 10%~98%rh 980L 1000 x 980 x 1000 1200 x 1853 x 2400 10 K/min.
快速(su)溫度變化(濕(shi)熱(re))試驗箱 C-1000-70-15 -70℃~+180℃ YES 20%~98%rh 980L 1000 x 980 x 1000 1200 x 1910 x 3130 15 K/min.
快速溫(wen)度變化試(shi)驗箱 T-200-70-20 -70℃~+180℃ NO —— 200L 600 x 830 x 400 800 x 1703 x 1800 20 K/min.
快速溫度變(bian)化試驗箱(xiang) T-300-70-20 -70℃~+180℃ NO —— 300L 600 x 830 x 600 800 x 1703 x 2000 18 K/min.
快速溫度變(bian)化試(shi)驗箱 T-400-70-10 -70℃~+180℃ NO —— 400L 600 x 830 x 800 800 x 1703 x 2200 10 K/min.
快(kuai)速溫(wen)度變化試驗(yan)箱(xiang) T-400-70-15 -70℃~+180℃ NO —— 400L 600 x 830 x 800 800 x 1703 x 2200 15 K/min.
快速溫度變(bian)化試(shi)驗箱 T-800-70-10 -70℃~+180℃ NO —— 784L 1000 x 980 x 800 1200 x 1853 x 2200 10 K/min.
快速溫度變化試驗箱 T-800-70-15 -70℃~+180℃ NO —— 784L 1000 x 980 x 800 1200 x 1853 x 2200 15 K/min.
快速溫度變化試驗箱 T-800-70-20 -70℃~+180℃ NO —— 784L 1000 x 980 x 800 1200 x 1910 x 2930 20 K/min.
快速(su)溫度變化試驗箱(xiang) T-1000-70-10 -70℃~+180℃ NO —— 980L 1000 x 980 x 1000 1200 x 1853 x 2400 10 K/min.
快速溫度變(bian)化試驗箱(xiang) T-1000-70-15 -70℃~+180℃ NO —— 980L 1000 x 980 x 1000 1200 x 1910 x 3130 15 K/min.

※1 溫(wen)度箱按照GB/T5170.2,IEC60068-3-5及濕度箱按照GB/T5170.5,IEC60068-3-6的規定,環(huan)境溫(wen)度+23℃、相對濕度65±20%rh、額定電壓(ya)、無(wu)試樣時。
※2 箱內溫度(du)是+20℃。
※3 不包(bao)括(kuo)突(tu)出(chu)(chu)部(bu)分。[ ]內(nei)的(de)尺(chi)寸包(bao)括(kuo)突(tu)出(chu)(chu)部(bu)分。
※4 該升(sheng)降溫(wen)速率為去掉總溫(wen)度區間的(de)(de)前(qian)后(hou)10%的(de)(de)升(sheng)降溫(wen)速率的(de)(de)值(zhi)。





產品&規范

廠商名稱

高溫

低溫(wen)

溫變率(lv)

循環數

循(xun)環
時間

備注

MIL-STD-2164、GJB-1032-90
電子產品(pin)應力篩選


 

工作極限溫度

工作極(ji)限溫度

5℃/min

10~12

3h20min


 

MIL-344A-4-16
電子設(she)備環境應力篩(shai)選

設備(bei)或系統

71℃

-54℃

5℃/min

10


 


 

MIL-2164A-19
電子(zi)設備環境(jing)應(ying)力篩選


 

工作(zuo)極限溫度(du)

工作極限溫度

10℃/min

10


 

駐留時(shi)間為內部達到指定溫度(du)10℃時(shi)

NABMAT-9492
美(mei)軍海軍制造篩選

設(she)備或(huo)系(xi)統

55℃

-53℃

15℃/min

10


 

駐留時間為內部達到(dao)指定溫(wen)度(du)5℃時

GJB/Z34-5.1.6
電(dian)子產(chan)品定量(liang)環境應力篩(shai)選

組(zu)件(jian)

85℃

-55℃

15℃/min

≧25


 

達到溫度(du)穩定的時(shi)間(jian)

GJB/Z34-5.1.6
電子產品定量環境應力篩選

設備或系統

70℃

-55℃

5℃/min

≧10


 

達到溫度穩定的時間

筆記型計算機

主機板廠商(shang)

85℃

-40℃

15℃/min


 


 


 



 

溫度循環試驗箱◎RAMP試驗溫變率列表
溫度(du)循環(huan)試驗箱◎RAMP試驗條件列(lie)表(biao)

溫度循環試驗箱適用相關規范對照表

 

 快速溫度變化試(shi)驗(yan)箱,快速溫度循環(huan)試(shi)驗(yan)箱,環(huan)境應力(li)篩選試(shi)驗(yan)箱

 

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