銷售熱線:
Lab Companion 快速溫度(du)循(xun)環試驗箱(xiang) Fast Temperature Cycle Test Chamber
快溫變應力篩選試(shi)驗箱是產品(pin)在(zai)設計強度極限下,運用溫度加(jia)速技巧(在(zai)上、下(xia)限(xian)極值(zhi)溫度內進行(xing)循環時(shi),產品(pin)產生交替膨脹和收(shou)縮)改變(bian)外(wai)在(zai)環境應力(li)(li),使產品(pin)中產生熱應力(li)(li)和應變(bian),透過(guo)加(jia)速應力(li)(li)來使潛(qian)存于產品(pin)的(de)瑕(xia)疵浮現[潛(qian)在(zai)零件材料瑕(xia)疵、制程(cheng)瑕(xia)疵、工藝瑕(xia)疵],以(yi)避免該產品(pin)于使用過(guo)程(cheng)中,受到(dao)環境應力(li)(li)的(de)考驗時(shi)而導(dao)致失效(xiao),造(zao)成(cheng)不(bu)(bu)必要(yao)的(de)損失,對于提高產品(pin)出貨良率與降低返修(xiu)次數有顯著(zhu)的(de)效(xiao)果,另外(wai)應力(li)(li)篩本身(shen)是一(yi)種(zhong)制程(cheng)階段的(de)過(guo)程(cheng),而不(bu)(bu)是一(yi)種(zhong)可靠度(du)試驗(yan),所以(yi)應力(li)篩選是100%對產(chan)品進行(xing)的(de)程(cheng)序。
對應 IEC規格(ge)試(shi)驗(yan)和汽車(che)相關規格(ge)試(shi)驗(yan)。 能夠實現在(zai)有試樣情況(kuang)下(xia),1℃~10℃的斜率控(kong)制 冷(leng)輸(shu)出節能調溫調濕控制系統(tong),雙PID及(ji)水蒸(zheng)氣(qi)分(fen)壓控制,技術成熟、精度極高。可實現高精度的(de)溫度控制。 在定值運(yun)轉及程(cheng)序運(yun)轉(斜率控制)中 產品綠(lv)色環保、省耗節(jie)能。通(tong)過相關接(jie)口均可進(jin)行(xing)網絡控制及數據(ju)采集。 溫度運轉(zhuan)模式:0℃以下(xia)的(de)(de)運轉(zhuan)的(de)(de)話(hua),基(ji)本可以做到(dao)只用冷凍機(ji)去達到(dao)溫度控制(Dual PID控制 )···加熱器輸出是常OFF。 可模(mo)擬汽車(che)行(xing)走環境(jing)后零部件重復快速溫度變化(hua) 例(li)如:-40℃~+125℃的循環等,評價其(qi)耐(nai)久性。 對應汽車零部件的各種結露實驗 溫(wen)度變化率:5℃/分以(yi)上(shang)、10℃/分以(yi)上(shang)、15℃/分以(yi)上(shang)、20℃/分以(yi)上(shang)。 根據日(ri)益增多的半(ban)導體(ti),車載電(dian)子相關電(dian)子元器件(jian)檢測需求,增加了200L,300L小(xiao)容(rong)量(liang)的快溫變試驗箱 新型(xing)號T-200-20,T-300-20,溫度變化率:20℃/min,結構緊湊,功能強(qiang)大。
滿(man)足以下標準 GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱(xiang)技術條件 GB/T 10586 -2006 濕(shi)熱(re)試驗箱技術條件(jian) GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huan)境(jing)試驗(yan) 第(di)2部(bu)分:試驗(yan)方法 試驗(yan)A:低溫 GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗(yan) 第2部分(fen):試驗(yan)方法(fa) 試驗(yan)B:高溫(wen) GB/T 2423.3-2006 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法(fa) 試驗Cab:恒(heng)定濕熱試驗 GB/T 2423.4-2008 電工電子產品環(huan)境試(shi)驗(yan)(yan) 第(di)2部分:試(shi)驗(yan)(yan)方法 試(shi)驗(yan)(yan)Db:交變(bian)濕熱(12h + 12h循環(huan)) GB/T 2423.22-2008 電工電子產品環境試驗 第(di)2部分(fen):試驗方法試驗N:溫(wen)度(du)變化 GB/T 5170.1-2008 電(dian)工(gong)電(dian)子產品環境試驗設(she)備檢驗方法(fa) 總則 GJB 150.3A-2009 軍(jun)用裝(zhuang)備實驗(yan)室環境試驗(yan)方法第(di)3部分:高(gao)溫試驗(yan) GJB 150.4A-2009 軍用裝(zhuang)備實驗室環境試驗方法第4部分:低溫試驗 GJB 150.9A-2009 軍用裝備實驗(yan)室環境試(shi)(shi)驗(yan)方法第9部(bu)分:濕熱(re)試(shi)(shi)驗(yan)
主要技術(shu)指標
※1 溫(wen)度箱按照GB/T5170.2,IEC60068-3-5及濕度箱按照GB/T5170.5,IEC60068-3-6的規定,環(huan)境溫(wen)度+23℃、相對濕度65±20%rh、額定電壓(ya)、無(wu)試樣時。 ※2 箱內溫度(du)是+20℃。 ※3 不包(bao)括(kuo)突(tu)出(chu)(chu)部(bu)分。[ ]內(nei)的(de)尺(chi)寸包(bao)括(kuo)突(tu)出(chu)(chu)部(bu)分。 ※4 該升(sheng)降溫(wen)速率為去掉總溫(wen)度區間的(de)(de)前(qian)后(hou)10%的(de)(de)升(sheng)降溫(wen)速率的(de)(de)值(zhi)。
產品&規范
廠商名稱
高溫
低溫(wen)
溫變率(lv)
循環數
循(xun)環 時間
備注
MIL-STD-2164、GJB-1032-90 電子產品(pin)應力篩選
工作極限溫度
工作極(ji)限溫度
5℃/min
10~12
3h20min
MIL-344A-4-16 電子設(she)備環境應力篩(shai)選
設備(bei)或系統
71℃
-54℃
10
MIL-2164A-19 電子(zi)設備環境(jing)應(ying)力篩選
工作(zuo)極限溫度(du)
10℃/min
駐留時(shi)間為內部達到指定溫度(du)10℃時(shi)
NABMAT-9492 美(mei)軍海軍制造篩選
設(she)備或(huo)系(xi)統
55℃
-53℃
15℃/min
駐留時間為內部達到(dao)指定溫(wen)度(du)5℃時
GJB/Z34-5.1.6 電(dian)子產(chan)品定量(liang)環境應力篩(shai)選
組(zu)件(jian)
85℃
-55℃
≧25
達到溫度(du)穩定的時(shi)間(jian)
GJB/Z34-5.1.6 電子產品定量環境應力篩選
設備或系統
70℃
≧10
達到溫度穩定的時間
筆記型計算機
主機板廠商(shang)
-40℃
溫度循環試驗箱◎適用相關規范對照表
快速溫度變化試(shi)驗(yan)箱,快速溫度循環(huan)試(shi)驗(yan)箱,環(huan)境應力(li)篩選試(shi)驗(yan)箱